ts 5 大手册 简介rev2

ISO/TS16949 体系体系 五大手册简介五大手册简介 ISO/TS16949 Training 讲师：游文明讲师：游文明 产品质量先期策划和控制计划 （ APQP 即， D-FMEA在设计 (图纸、规范 )完成之前， P- FMEA在过程设计确定之前。 全面的事先 FMEA分析，可容易、经济地进行早期更改。 即对产品规范 /过程方案和控制进行较容易、低 成本地修改，减轻事后修改的浪费，和对进度的影 响。 FMEA是一个永不停止、相互作用的持续改进的过程。 五大手册之三 FMEA潜在的失效模式和影响分析 设计 FMEA _系统 _子系统 五大手册之三 FMEA潜在的失效模式和影响分析 过程 FMEA 五大手册之三 FMEA潜在的失效模式和影响分析 MSA的目的 MSA的二个阶段 计量型数据的 MSA 计数型数据的 MSA 五大手册之四 MSA测量系统分析 一、 MSA的目的 测量系统分析的目的是确定所使用的数据是 否可靠 测量系统分析还可以： 评估新的测量仪器 将两种不同的测量方法进行比较 对可能存在问题的测量方法进行评估 确定并解决测量系统误差问题 五大手册之四 MSA测量系统分析 MSA的二个阶段 第一阶段（使用前） - 确定统计特性是否满足需要 - 确定环境因素是否有影响 第二阶段（使用过程） - 确定是否持续的具备恰当的统计特性 五大手册之四 MSA测量系统分析 偏倚 BIAS 测量结果 的平均值与参考值的 差异 . 参考值（ reference-value）是 一个预先认定的参考 标准 . 该标准可用更高 一级测量系统测量的 平均值来确定 (例如： 高一级计量室 ) 观测平均值 参考值 计量型数据的 MSA 五大手册之四 MSA测量系统分析 稳定性（ Stability） l 在一段时间内，测量结果的 分布无论是均值还是标准偏 差都保持不变和可预测的 l 通过较长时间内，用被监视 的量具对相同的标准或 标 准件的同一特性进行测量的 总变异来监视 l 可用时间走势图进行分析 时间 -1 时间 -2 时间 稳定性 量 值 计量型数据的 MSA 五大手册之四 MSA测量系统分析 精确度：重复性 l 测量系统内在的变异性 l 基于重复测量的数据， 用分组后组内的标准偏 差来估算 小于测量系统的总变差 重复性 指同 一 人使用同一测量工具对同一对象（ 产品）的同一特性进行多次测量中产生的变差，用于 估计短期的变差 Master Value 计量型数据的 MSA 五大手册之四 MSA测量系统分析 精确度：再现性 l 测量系统中操作员产生的变异 l 基于不同操作者的测量数据， 按操作员分组，通过组平均值 的差来估。 l 应扣除量具的因素（组内变差 ） l 比测量系统总变差小 Inspector A Master Value Inspector B Inspector C Inspector AInspector B Inspector C 再现性 指不同的人在对同种特性进行测量时 产生的变差 计量型数据的 MSA 五大手册之四 MSA测量系统分析 线性 在量具正常工作量 程内的偏倚变化量 多个独立的偏倚误 差在量具工作量程 内的关系 是测量系统的系统 误差构成 计量型数据的 MSA 五大手册之四 MSA测量系统分析 % R (2) 連續 35個點子至多 1個點子落在控制界限外 ; (3) 連續 100個點子至多 2個點子落在控制界限外。 判穩準則 (2) ： 若過程正常爲正態分佈 ,令 d爲界外點數 ,則連續 100點 ,d2 的 概率爲 P(連續 100點 ,d 2)=0.0026 這是與 0=0.0027爲同一個數量級的小概率。因此 ,若過程處 於穩態 ,則連續 100點 ,在控制界外的點子超過 2個點 (d2)的事件爲 小概率事件 ,它實際上不發生 ,若發生則判斷過程失控 3=0.0026就 是準則 (3)的顯著性水平。 五大手册之五 SPC统计制程管制 判斷異常的準則 : 符合下列各點之一就認爲過程存在異常因素 : (1) 點子在控制界限外或恰在控制界限上 ; (2) 控制界限內的點子排列不隨機。 界內點排列不隨機的模式很多 ,常見的有 : 點子屢 屢接近控制界限、鏈、間斷鏈、傾向、點子集中在中心 線附近、點子呈周期性變化等等 ,在控制圖的判斷中要注 意對這些模式的識別。 管制图判读 五大手册之五 SPC统计制程管制 模式 1: 點子接近控制界限 (1) 連續 3個點中 ,至少有 2點接近控制界限 ; 0.0053 (2) 連續 7個點中 ,至少有 3點接近控制界限 ; 0.0024 (2) 連續 15個點中至少有 4點接近控制界限 0.0030 模式 2: 中心線一側出現長爲 9的鏈 0.0038 模式 3: 連續 6點的傾向 ，即上升或下降 0.00273 模式 4: 點子集中在中心線附近。即點子距離中心線在 1 以內 連續 15點集中在中心線附近 0.0033 管制图判读 五大手册之五 SPC统计制程管制 Cpk 製程能力 製程能力指數 (綜合指數 ) Cpk是總合 Ca(k)和 Cp二值之指 數，其計算式為 : 當 Ca =0時， Cpk =Cp；單 邊規格時， Cpk即以 Cp值計， 但需 取 絕對值。 五大手册之五 SPC统计制程管制 Cpk 精確度 製程能力指數 (綜合指數 ) Cpk = (規格上限 Xbar ) / 3a 或 ( Xbar - 規格下限 ) / 3a 兩者取小值 五大手册之五 SPC统计制程管制 Ca 準確度 Capacity of Accuracy Ca = L1 /L2 L1 = X SL L2 = (USL LSL)/2 五大手册之五 SPC统计制程管制 Cp製造潛力 (Cp Process potential) Cp(製程潛力 )是一項有關製程之指數，為容差範圍對六個 Sigma離勢之比率。 Cp值計算，應于製程已達于統計之管制狀態中時為之。 Cp=USL-LSL 6a (雙邊規格 ) 五大手册之五 SPC统计制程管制 USL與 LSL分別代表工程規格的上限與下限。應知此一公式會受到雙邊 規格的限制 :亦即，上下限都已經被指定了。設若某一邊規格附加了某些特 性，則能力指數或許應改為： C p u= USL- 3a (單邊規格上限 ) C p l= -LSL 3a (單邊規格下限 ) 或 五大手册之五 SPC统计制程管制 a 製程標準差 讀做 Sigma Actual a R d2 (樣本數 n 25) p 樣本 標準差 讀做 Sigma Pattern p= (Xi-Xbar)2 n-1 n i-1 五大手册之五 SPC统计制程管制 PP 初期製程潛力 (PP Preliminary process potential) 定義 PP： Pp 初期製程潛力，為一項類似于 Cp之指數；但本項指數之計算，是以新製 程之短期短程性研究所得之數據為基礎，取得之製程數據，至少應包括該 製程初期評估時之二十組數據，但計算時，應于定義 樣本 為： Pp= USL-LSL 6p p= USL-LSL 12 五大手册之五 SPC统计制程管制 PPK 初期製程能力 (PPK Preliminary process capability) 定義 PPK： PPK 初期製程能力為一項類似于