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  • 1989-12-29 颁布
  • 1990-08-01 实施
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【国家标准】GB 12085.8-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 高压、低压、浸没_第1页
【国家标准】GB 12085.8-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 高压、低压、浸没_第2页
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文档简介

0中华人民共和国国家标准压、浸没压、浸没试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本标准适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。2试验目的研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受高压、低压、浸没影响的变化程度。验范围4试验条件光学仪器的耐压试验采用下述三种方法。高压条件试验方法80的环境条件为清洁的1*空气或氮气，相对湿度小于30%没条件试验方法82用于在使用期间可能遭到浸没的仪器。反没试验应使用软水并在敞开的水箱里或水压室，进行，授没的深度根据试样的最高部位决定，水温应在1025之间，暴露期间试样的温度不得低二1水温，但也不可超过水温拍。高压条件试验方法80内，阁玉的严酷等级按表1。70809 。m，n，注:1)低压条件试验方法81内低压的严酷等级按表2。表2严酷等级01102103104050610708109与外界的眼差，40士05最大压降，12。00!200110。0m，注:1)没条件试验方法82浸没的严酷等级按表3。表3严酷等级0102 0304020040哎)样的预处理和初始检测暴露前，试样应在温度为40 1 2，相对湿度小于40%力变化曲线如有关标准要求在试验中记录压力随时间变化的曲线，则应采用记录仪记录，如没有适当的记录仪，压力变化曲线应根据不少于10个相等间隔的测量值绘制。应注意:C，否则将会降低所要求的测量准确度;如:用手动代替工作状态2;试样内部体积的变化而产生记录的突变，则应在记录中标明。复和最后检测暴露完成后，试样需放在温度为40士2、相对湿度小于40%的条件下4h。价中间检测和最后检测时光学表面不能出现水膜，但水膜在试样加热期间若能部分消失并在试验结束24 关标准应规定允许的差异。如果由十试样的结构(如封闭式外壳)而使得目视检查看不到渗水现象，则在有关标准中应规定丰众验渗水的方法。了环境试验标记例:选用本标准中的条件试验方法81内低压、严酷等级01、工作状态1的标记为:。一环境试验标样的数W _初始检A“的内容和范围;条件试验方法80和81:如果需要，以此作为判据。!作状态2仁作周期的确定;厂作状态201司检测的内容和范围;恢复(最后检测的内容和范围(评价判据(试验报告的内容和范围。考件) ，姚的对应螺纹公称值按表B 3x x 于干燥器连接夹头。附加说明:本标准由中华人民
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