关键质量特性.doc

关键质量特性(简称CTQ, Critical to Quality)关键质量特性（CTQ）定义：产品或零部件可能对最终产品的主要功能，安全性，可靠性或成本造成显著影响的特性。关键工序（CTP）定义：对关键特性的形成起决定性作用的工序。关键质量特性（简称CTQ）可视化管理绿色区域表示完全满足；对于过程能力来讲，过程能力完全满足要求，CPK(PPK)1.5;对于测量系统来讲, 测量能力完全满足要求, RR10%.黄色区域表示部分满足；对于过程能力来讲，过程能力部分满足要求，1CPK(PPK)1.5;对于测量系统来讲, 测量能力部分满足要求, 10%RR30%.红色区域表示不满足;对于过程能力来讲，过程能力不满足要求， CPK(PPK)30%.过程（工序）能力分析（简称CP Capability Process Analysis）1、过程能力（简称CP）在制造业中，过程能力称为工序能力，是指工序中人、机、料、法、测、环（5M1E）诸因素均处于规定的条件下，操作呈稳定状态下的实际加工能力。用6表示。根据统计学理论，若质量特征值服从正态分布，则质量特征值落入6倍的标准偏差s内，其概率为99.73%。2、过程能力指数(简称CPK)（1）过程（工序）能力指数（简称CPK Capability Process Key）过程（工序）能力指数是表示过程（工序）能力满足公差范围要求程度的量值。过程能力指数是公差范围（T）和过程（工序）能力（6）的比值。一般用符号CP表示。(2)过程（工序）能力指数计算1)当给定双侧公差，质量数据分布中心（X）与公差中心(M)相一致时，用符号CP表示。CP=T/6(TU-TL)/6S2）当给定双侧公差，质量数据分布中心（X）与公差中心(M)不一致时，用符号CPK表示，=|XM|CPK=(T-2)/6(T-2)/6S=（1-K）CP3）当给定单向公差的上限时:CPU(TU-X)/3S4）当给定单向公差的下限时:CPL(X-TL)/3S(3)过程（工序）能力指数的评定A.过程（工序）能力等级评定表，对有偏过程能力的判断（供参考）。CPK值偏离系数 K建议的措施1.33CPK0K0.25不必调整1.33CPK0.25K0.50密切关注1.00CPK1.330K0.25密切关注1.00CPK1.330.25K0.50应予以调整B对有偏过程能力的调整原则：1.CP值的富裕程度；2.调整的难易程度；3.对最终产品的影响；4.调整的经济性。3.提高过程（工序）能力指数的途径a.减少加工中心的偏移量；b.减少标准偏差；c.增大公差范围。实践证明，在工序加工分析时，减少中心偏移量，在技术上，操作上比较容易实现。只有当中心偏移量等于0，工序能力指数小于1时，才考虑是否采用b或c两种途径。测量系统分析（简称MSA Measurement System Analysis）使用数理统计和图表对测量系统误差进行分析，以评估测量系统对于被测量的参数是否合适，并确定测量系统误差的主要成分。为了明确流程变动的原因,首先应知道测量系统的变动, 并且要把它与流程变动相区分,测量 Gage R&R分析将这样的变动要因定量化。观测到的流程变动有两种：（1）实际流程(制品)的变动长期流程变动：PPK有偏移长期过程能力指数。短期流程变动：CPK有偏移短期过程能力指数。（2）测量系统的变动第一类由测量gage造成的变动1.分辨力（Discrimination）：指测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。传统是公差范围的十分之一。建议的要求是总过程6(标准偏差)的十分之一。2.偏倚（Bias）：是测量结果的观测平均值与基准值的差值。基准值的取得可以通过用更高级别的测量设备进行多次测量，取其平均值来确定。3.稳定性（Stability）：是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的相同特性时获得的测量值的总变差。4.线性（Linearity）：线性是在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值：可以用整个仪器量程范围内的偏移之差（或偏差）的量度来度量样本的线性度。如果偏移在整个量程范围内不变，则具有很好的线性度。5.重复性（Repeatability）：是由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。第二类由测量者造成的变动6.再现性（Reproducibility）：再现性是由不同的评价人采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。其中：RR分别代表重复性（Repeatability）和再现性（Reproducibility），其数值的大小说明测量系统的稳定性。Study Variation（测量系统标准偏差对总标准偏差的贡献，用%表示)。计量型测量系统的评价测量误差的构成：测量误差 = 准确度误差和精确度误差之总和。1.中心：精准度（total）=（product）+（ms）（偏移）。观测值 =基准值 + 测量偏差2.分散：精确度（total）2=2（product）+2（ms）（分散）。观测分散 = 制品分散 + 测量系统分散影响