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  • 2016-01-01 实施
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ICS2522020 A 29 . . 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T315682015 热喷涂热障 ZrO2 涂层 晶粒尺寸的测定 谢乐公式法 Standardtestmethodfordeterminationof crystallitesizeofZrO2coatingsbyScherrerequation2015-05-15发布 2016-01-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 GB/T315682015 前 言 本标准按照 给出的规则起草 GB/T1.12009 。本标准由中国机械工业联合会提出 。本标准由全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会 归口 (SAC/TC57) 。本标准起草单位 中国科学院上海硅酸盐研究所 : 。本标准主要起草人 程国峰 黄月鸿 阮音捷 曾毅 宋力昕 : 、 、 、 、 。 GB/T315682015 热喷涂热障 ZrO2 涂层 晶粒尺寸的测定 谢乐公式法 1 范围 本标准规定了应用 射线衍射谢乐公式法测定热喷涂热障 涂层试样中立方 四方 单斜三种 X ZrO2 、 、 相 晶粒尺寸的方法原理 测试条件及计算步骤等 ZrO2 、 。 本标准适用于晶粒尺寸在 范围 内部无不均匀应变的试样 2nm100nm 、 。2 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件 。21 . 热障 ZrO2 涂层 thermalbarrierZrO2coatings 采用热喷涂制备工艺制备的 基的涂层材料 ZrO2 。22 . 晶粒 crystallite 内部分子 原子等有规律排列的微小单晶 、 。23 . 晶粒尺寸 crystallitesize Lhkl 晶粒在 hkl 晶面法线方向上的平均尺度 ( ) 。24 . 半高宽 fullwidthathalfmaximumofpeakprofileFWHM ; 衍射峰峰高极大值一半处的峰宽 。3 方法原理 对试样照射 射线 测量所得到的衍射线 假设试样中没有晶体结构的不完整 则衍射线的宽化仅 X , , , 由晶粒的细化引起 可利用式 谢乐公式 计算晶粒尺寸 , (1)( ) : K Lhkl = hkl (1 ) cos 式中 : Lhkl 晶粒在 hkl 晶面法线方向的平均尺度 单位为纳米 ( ) , (nm); K 常数 与hkl 的定义有关 当hkl 定义为半高宽时 K , 。 , =0.89; 实验所用的 射线波长 X ,0.154056nm; hkl 由晶粒细化引起的试样某 hkl 晶面衍射峰的半高宽 需
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