GB-T7220-2004 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 表面粗糙度 术语 参数测量

ICS17.040.20J04荡黔中华人民共和国国家标准GB/T7220-2004代替GB/T7220-1957产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廓法表面粗糙度术语参数测量GeometricalProductSpecifications(GPS)一Surfacetexture-Profilemethod-Surfaceroughness-Terminology-Measurementofsurfaceroughnessparameters2004-11一11发布2005-07-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T7220-2004月U青本标准是对GB/T7220-1987表面粗糙度术语参数测量的修订。修订后的标准在技术内容上与1987年标准和现行的产品几何量技术规范(GPS)新标准体系基本一致，满足了国内各有关行业的需求。本标准与GB/T7220-1987相比主要变化如下:根据GB/T3505-2000，对GB/T7220-1987标准的术语定义进行了协调。在标准编写格式上按新的GB/T1.1的规定作了相应的修改修改后的版本，作为GB/T6062-2002的补充。所涉及到的相同定义，均应以GB/T6062为准。本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位:机械科学研究院、时代集团公司、中国计量科学研究院、北京市计量科学研究所、哈尔滨量具刃具厂。本标准主要起草人:王欣玲、王忠滨、高思田、吴迅、郎岩梅。本标准于1987年1月首次发布。GB/T7220-2004产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廓法表面粗糙度术语参数测量范围本标准规定了有关表面结构(粗糙度、表面波纹度和原始轮廓)参数测量的术语及定义。本标准适用于轮廓法评定表面结构参数测量的术语定义。规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T3505-200。产品几何技术规范表面结构轮廓法表面结构的术语、定义及参数(eqvISO4287:1997)GB/T6062-2002产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性(eqvISO3274:1996)术语和定义由GB/T3505和GB/T6062确立的以及下列的术语和定义适用于本标准。3.1轮廓转换profiletransformation在测量过程的任一阶段(如:触针滑移、滤波、记录等)预期地或非预期地导致轮廓表现形式产生变换的过程。3.2转换轮廓transformedprofile由转换结果所产生的轮廓。3.3预期轮廓转换intentionalprofiletransformation按规定的要求(对给定某一测量的具体要求)测量时，应进行的轮廓转换。例如:将表面轮廓转换成电信号，以便能使用电测仪器;测量时用滤波器按波长分离出与粗糙度、波纹度和原始轮廓对应的轮廓成分。3.4V预期轮廓转换unintentionalprofiletransformation由于测量仪器或其个别部分不完善，所产生的轮廓转换(通常视为轮廓信息失真)。例如:当具有一定针尖半径的触针滑过轮廓进行测量时，所产生的轮廓信息失真。3.5轨迹轮廓tracedprofile测量表面时，触头在被测表面的横切面内触头中心点的轨迹，这个触头具有理想的几何形状(带有球形尖端的圆柱体)、标准尺寸和标准测力。tGB/T7220-20043.6外基准轮廓externaldatumprofile触针以外部的基准导向滑过实际轮廓时，触针中心轨迹的转换轮廓。3.7导头基准轮廓skid-dependentdatumprofile触针以导头轨迹为基准滑过实际轮廓时，触针中心轨迹的转换轮廓导头具有确定的形状，离触针有确定的距离并沿同一被测的实际表面移动。3.8行程长度traversedlength传感器沿被测表面移动的总长度。3.9轮廓采样fill距Axprofilesamplinginterval用数字法测量表面参数时，轮廓上相邻的两个离散纵坐标间的距离(见图1).3.10轮廓且化步距幻profilequantizationstep用数字法测量每个轮廓纵坐标值时，两相邻读数间的距离(见图1)a注:该距离等于数字测量装置的最小读数单位，进行数字测量时，轮廓纵坐标值圆整到轮廓量化步距的整倍数刀。Ya牛ny一(0.5+Dy)式中:Ye一通过数字测量装置获得的轮廓纵坐标值;AY-一轮廓量化步距;ent取整数(算符);Y一轮廓纵坐标的真值;”一量化步距的整倍数.3.11理想求值系统idealoperator为保证理论上精确地(理想地)确定表面诸参数和特性的一种计算方法(见图2)a3.12最佳求值系统optimumoperator为保证实际确定表面诸参数或特性，并具有合理的生产费用的一种仪器求值计算方法(见图2)。GB/T7220-20043.13实际求值系统realoperator最佳求值系统的具体实现。注:该种求值系统由于仪器的制造误差或由于仪器的长期使用所产生的特性变化而不同于最佳求值系统(见图2).3.14方法误差AMmethoderror按最佳求值系统确定的表面参数值与同一参数的真值(即按理想求值系统确定的值)之差(见图2).3.15仪器误差Ainstrumenterror由实际求值系统确定的表面参数值与最佳求值系统确定的同一参数值之差(见图2)3.16仪器(测f装置)示值误差Terrorofindicationofainstrument(meauringdevice)由测量仪器(即按实际求值系统)确定的表面参数值和该参数的真值(即按理想求值系统确定的值)之差。它包括方法误差和仪器误差(见图2