A1S62RD3、A1S62RD4用户参考操作说明书指南

安全注意（使前阅注事）使用三菱设备时，请仔细阅读本手册及其介绍的相关手册。请特别注意安全，并正确处理模块本意项适三菱于PC统安全意参考块户手册。·全·项为两危”“” 。危险 若操作当可引起险况，致伤或严伤。注意 若不恰操作能引危情况导致度或度害或产损。注意于境变，划分为 注意事可能生重后。划分两的意项很重，须守。请妥保该册以必要能时出读并将转给终户。〖有设上注事〗危险外部出体损会致输保为或O加部控路由于误执行能致重故输出号。注意不要控线通线主电或源捆一，或它靠太。为导这线间至开150，否，可因噪导故。〖有安时注事〗注意使用PC的境遵册中通规。如果用PC环超了手中明通规的范，能导电、失、故障或致产的坏或量降。在安模之，确模块底安用起分与板安孔确齐。有确装模将导故或效或致该块基上落。〖关布时注事〗注意编码（电盒应用屏线地使第3类或高型接则将会导致障。对PC确线检定电和产的子列。使用电不合定压或线正将致火或能作。输入压过定所定的压将致效。将电端的钉紧，应用定矩。螺钉动导短，火或障。确保有屑线等部物掉模内。们将致火失或障。〖关启与护注事项〗危险电源开不接电端子。这将致障。清洗重拧螺前关闭源。电打时行种作将致模的效产生障。注意不要开修任模。这将致机故、伤或火。安装拆该块需闭电。电源开，装拆该模将致模的效或生障。〖关废处时注事项〗注意请将产作工垃处理。再版记录※手册序号位于后封面左下部印刷日期1991年月

手册序号 版本SHA)08021C第一版概况感谢用ubMSEC系列用可程控器请细读手册使设备发挥的佳效请该手的本交终户。录1.综述……………1-1~1-21.1点…………………1-22.系统配置………222.1总体配置………………12.2应用统…3.规格………………-3-3.1一般规格………………13.2性能规格………………23.2.1连温阻程……………333.3性能…………343.3.1表……343.3.2转有效/置…………353.3.3采和时均理………33.3.4检温度存储……-103.3.5断检测………3113.3.6适铂测阻……3123.4CUI/O号…………3133.4.1DT错误标志(X0)……………-143.4.2准备好标志(X1)…………………3-43.4.3写数据错误标志(X2)和错误重置标志(Y12)……………3-143.4.4检测志…3153.5缓贮……163.5.1缓存……3163.5.2用于转换有效/无指定的存储器(地址0)…………3-173.5.3用于平均处理指的存储器(地址1)…………………3-183.5.4用于时间平均/次数的存储器(地址2和3)……………3-183.5.5用于检测温度值的存储器(地址10,11,18～21)…………3-193.5.6用于写数据错误代码的存储器(地址34)………………3-203.5.7用于转换完成标的存储器(地址35)……………3-213.5.8用于铂温电阻规格类型的存储器(地址36)……………3-21-i-4.预操作设置和顺………-4-04.1预顺序…………4.2作令…………-24.3名称…4.4错偿……-44.4.1化置……………………4-64.4.2补顺序………4-74.5和温阻连………………-84.5.1将和Pt100相连…………………4-84.5.2将和t1………………495.编程……5-15.1编序………515.2读/写基本编程………525.3编例……-35.3.1读度的序………536.故障排除……………6.1误码表 …………6.2RNED闪或灭……6-26.3T错误志已置………6.4备……6.5数错已置…-26.6开测设…………-36.7CU无取检值……………6.8度入度测值一………-3附录………P-1PP4附录.A1S2DA1SD4683和68D4较……………1附录.铂电标值………AP22.1新JIS/DIN型号(Pt100)……AP22.2旧JIS型号(IPt100)…PP附录3.部尺寸………APP-33.1A16…………AP33.2A16…………AP4-i-1.综述 MLSE－A1综述本手说和E―A系列1PU起使的AS6RD3型测温电阻t1输入模块(以下简称A1S62RD3)和A1S6R4型铂测温电阻Pt100输入模块(以下简称A1S6RD4)的规格和编程方法。A6R3是一种3接型测A162RD4是种4线测温电。(以后AS6D3和A164略写为A1S62RD。)A16RD能将铂阻JPt00或Pt100(以后略写为Pt100)转化为16位或32二制数16位号的进精到数点后位位符二进精到后位。温度量过程温度数据 数换检测到的温度值缓存存器(1)Pt100环境温度的变化引起阻值的变化。(2)温度数据以检测温度值式存贮在的缓存存器中。(3)存贮在缓存中检测温度值可从中读。在使用时请考如下手册册名称编程手册(基础篇)编程手册(公共指令)用手册

IB-66249IB-66250IB-663201-11.综述 MLSE－A1.1特点(1)1SRD以接和旧JIS新JS或DN测温阻读温数。(2)可储据点的和三位值。示例:150.1[°C]该小点位皆存贮温度数据:150.125[°C]<150.125[°C]该小点位贮(3)一个模块可和2个t连。(4)有三种转换处理方法(采样处理、时间平均和次数平均)可选择。(5)可测t10或缆断。A1S62RD3:由通测A16RD4由所道同检测(6)每个通道均可设置转换有效/无效。备注1：旧JIS、新JIS和铂测温电阻型号如下所示:旧型号JIS:新型号JIS:

JISJISDIN : 3709801-22.系统配置 MELSEC－A2.系统配置2.1总体配置在用1S2D时统置下所。基元1S62RD铂测温电阻P10温度输入模块铂测温电阻P100、P100扩展缆扩展板元（15[]）源（16[]）源2-12.系统配置 MELSEC－A2.2可应用系统(1)A1S62RD仅适于A1模。(2)A1S62RD用于A12RD模点地小于ASPU管理的0软元件数情。(3)A1S62RD可基元的意槽连。但是，必须注意以下事项:(a)如果A162D超出源荷力当没装电块的展板元连接时，需要考虑电源模块的负荷能力、主基板单元、扩展基板单元和扩展电缆的电压降。在选择电源模块、主单元、扩展基板单元和扩展电时要虑些素。在1PU户册出了细料。2-23.规格 MELSE－A3规格本章了1S6RD般、能规和I/O转换性。3.1一般规格表3.1了AS6D的一规。表.1 般格目格操作境度 存储境度 -20～5°C操作境度 凝聚存储境度 凝聚率 加速度 振幅 动数性

适合*JSC091

―― 0.075m1g ――

10倍*(1倍频程/分钟)击性强度性电阻环境方法

适合JSC0912(10g×3倍，在一个方向上)由150声μS度，噪声率模拟器测试经过C外子接地，500AC分钟经过C外子接地绝测仪≥无污性体灰减到少自冷却备注标有符号倍程从最频到1/2或倍变例从10z到H从20Hz到40Hz和从40Hz到20Hz从20Hz到Hz变化都称频。*JS:日工准3-13.规格 MELSE－A3.2性能规格下表了AS6D的能规。表.2 规格项 目 A1RD3测量法 3线型

A1RD44线型可连测电阻温度入围

Pt100(适合JIS和43760－1980)JPt100(适合JIS160981)Pt100:-180～600°C(27.08～313.59Ω)JPt100:-180～600°C(25.8～317.28Ω)16位号进制可测度值 32位二制倍)分辨率 0.025°C

-1800～6000(至小数点后一位的10倍)-180000～600000(至小数点后三位的1000总体度转换度温度入道数绝缘法I/O软件数端子接头可用线格A16RD和Pt间的电缆可用装子

±1%满量程精度)40ms/通道2通道/1块通道之间:无绝缘输入和CCU电源之间:光耦合绝缘3210点排0.752mm2(可用扭紧力矩7kg-cm)参见3.2.1节V1.53、125Y、V2S3、V2-Y3A5VDC功耗（）重量(Ib)

0.540.2904)

0.440.2802)外部寸i） 130(512×4(136×93(.69)3-23.规格 MELSE－A3.2.1连测格如下格于A1S63RD3/A1S62RD4温阻相时。(1)A1S62RD3将t10和1S63间导电为。程用于C.1和H.2C1和H.2导线 10Ω或小 A16R3线处于如下状态:(1)导线电阻值≤10(Ω)(2)导线电阻值≤10(Ω)(3)导线电阻值≤10(Ω)(2)A162D4电的线阻为7Ω。示例:将Pt10和C.1与H2连线A16R4导线处于如下状态:(1)+(2)+(3)+(4)+(5)≤70(Ω)表示电流方向3-33.规格 MELSE－A3.3性能本节了1S6RD种功。3.3.1能表下表了1S6RD能。表.3功表项目 描 述

考章节每通道转换有效/无设置采样/平均处理设置

度/经置 3.3.2按照所设置的处理方法对检测的温度进行处理，并将结果存贮在缓存存贮器中。三种处理方法如下:采样理 3.3.3时间理次数理值小点和位。给出点一16带二):测的贮 示例:53.8[°C] 538 3.3.4给出点三32带二):示例:216.025[°C] 21025t1缆开测A1s2D3开测测的置

检测道并置与道断检标3和4） 3.3.5A1s2D4如果何道开，以设断开检标志X）已经设置所使用的铂测温电阻类型。铂测温电阻有两种:Pt100:新JS和DN型(JISC164－199，DI 3.3.643760－1980)JPt100:旧JS型(JISC1604－1981)3-43.规格 MELSE－A3.3.2转换有效/无效通道设置(1)应对每个通道进行温检测有效/无效通道设置。转换有效:接收到外部温度，并断开检测转换无效:无法接收到外部温度，没有断开检测(2)所有通道都缺省设置为转换无效。为使道置为转换，进转换效/无效置时将道设到存贮。示例:当通道1置转时存器通道1为转有效转换有效 检的度值（16位）转换无效 检的度值32位）(3)为减少采样时间应将使用通道设置为转换无效。示例:1)在通道1通道2设置转换时采样间==2)在只有通道1有效时时间==3-53.规格 MELSE－A(4)在转换有效切换为转无效时，将执行如下过程。(a)存道和2换标冲贮址5重置。(b)开测重。意项储存器测温值转有无前保。备注(1)3.5给了的料。(2)3.3.5和3.4节分出断开检和测志的细。3-63.规格 MELSE－A3.3.3样间理(1)采样通道的按设置在CU样进行换检值存储在冲中。采样时间缓存贮器温度变程时间（msec）缓冲存贮器中内容随采样时间变化过程备注(1)采间通变。采样间=的数×40示例:在使用一个通道时×40=(2)3.5给出冲器细料。3-73.规格 MELSE－A(2)时间平均处理时间在CU平理内通道据成转。在设时内8~320ms的采时检温度，余值平均值(最大值和最小值除外)存储在缓冲存贮器中。温度 均值 下一均值上一均值设定时间时间数据最大值 最小值7均值=18020+25+2520+1+180 =1987存贮在缓冲存贮器中在一新的检测温度平均存储之前，上一均值一直储在冲存贮器中。备注(1)在特定时候采样次数随通道数量变化。样数=设置时间/(使用的通道数量×40ms)示例:当同时使用通道1和2并设为时数=600ms/(2×40ms)=7.5取整到7次(2)3.5给出储温的冲的细资。3-83.规格 MELSE－A(3)次数平均处理在的均次数，的据转。在设置次数内的每一采样次数(1～800次)读取检测温度值，并将剩余数值的均值(最大值和最小值除外)存储在缓冲存贮器中。设置次数温度 均值 下一均值上一均值设置次数时间在一新温均值储上个一缓。备注(1)特定次数的采样时间和通道数量有关。样间=:在时用道1和，且为和15时的采样时间如下所示:道 置数 采 样时间100 15 (2)3.5给出储冲器的度的详资料。3-93.规格 MELSE－A3.3.4测值储可以用1S6D测18～00范温。精到后一和第三的度将存在贮中。(1)精确到小数点后第一位的温度值:确点第温以，并以带二制表可－00范围的。示例:53.8°C53.8°C 3810倍 储存器中(2)精确到小数点后第三位的温度值:精确到小数后第位温度值乘以00，并以2位二进制形式表示，可以储100～600围的。示例:216.025°C216.025°C 26250倍 存储缓器中3103.规格 MELSE－A3.3.5开测Pt00或电开可以测的。(1)A1S62RD3(3线型)在每一通道断开是可以检测的，断开检测标志(3～X4)和通道设置有关。是仅用有定道。CH1和t10间连接接例 转换效无指定 断开检测(X3)转换效 ON开断开 转换效 OF转换效 ON无连接 转换效 OF转换效 OF无断开 转换效(2)A1S62RD4(4线型)在每一通道断开是可以检测的，断开检测标志X)已经设置。但是，如果所有的通道都指定为转换无效，将无法进行断开检测。如果至少有一个通道指为换即进行开。断测标志(X3)使用有通道 使道1连接例 开 开C1和.2转换效C1有效C2有效C1和.2转换效

断开 开 无开 断开OF ONOF OF OF ONOF3113.规格 MELSE－A意项(1)一定将未使用的通道和由Pt00使用的道设为转换无效。如果置为转有设断开测。(2)3.3.4节出标细料。(3)4.5节给了t1接细料。3.3.6用电阻在A1S2RD中以使用JPt100(新JIS160989型和型)或Pt100种测阻。可通缓器定所通的法测种。(在电源打开或复，型设为Pt100。)注意项不可在一个模块同时用两不同类型的铂测温电阻。否则在与定铂测温阻同将能得正测度。备注(1)附录2铂温电标详。(2)3.5给出冲器细料。3123.规格 MELSE－A3.4CUI/O信号本节明制AS6D和PCU的I/O号能。X元从1S2D到CU输Y元件从CU到AS6D的输出信号。在以下章节将使用软元件符号X和Y的地址号是指的如果A6D主板槽0中的下。表.4 D3I/O号信号方向:A1S62RD3 CPU信号方向:U AD3元号 描述X0 D错志X1 待机志X2 写数错志X3 CH.1:断开检测标志X4 CH.2:断开检测标志

软元编号 描述 未使用X～1F 不可用

Y12

错误码志不可用表.5 1SRD4I/O号信号方向:A1S62RD4 CPU 信号方向:U 16D4元号 描述X0 D错志X1 待机志X2 写数错标志

元号 描述 使用X3XF

∑断开检测标志(CH.1和CH.2)不可用

Y12

误置志可用3133.规格 MELSE－A3.4.1WDT(近点定时器)错误标志(X0)在1S2RD自断检测到DT时设置志在设错标志时AS6D不再N换能错误标志0置可能发硬作。3.4.2待机标志(X1)在普模1）接源或置CU，备转时设志。偏置/开设为ST时，标试式（）。接通电源关断测试模式方式普通模式OFFSET偏置/增益 SETGANONREADY信号OFF2秒 2秒3.4.3写数据错误标志(X2)和错误代码重置标志(Y12)当1S2RD发除T错误其它时会设置标。错代存储缓冲存贮器错误存区（地址）。果将“0”入设值检查代码存储区者程设置错重标会代。错误代码重置标志接通关断写数据错误代码存储区 代码写数据接通错误代码关断备注(1)3.5.6节给出些错误码详。(2)*1普通式在子和3。(3)*2测式指在端子1和3连接状态另外以偿测试式的误。3143.规格 MELSE－A3.4.4断测志当设为效通设断志(X和若将道转无会开测。通道1通道1转换有效/转换有效无效指定状态转换无效断开通道1无断开接通断开检测标志(X3) 关断当一通道设置为换有效，其它通道开时，会设置断开测标志(X3)。当所通置转换效开测重。有通道设置为转换有效转换有效/无效所有通道均设置为转换无效有通道断开通道所有通道均连接ON错误检测标志OFF备注3.3.5节给出了的详资。3153.规格 MELSE－A3.5冲存贮器3.5.1冲分配下图了1S6RD的缓冲存贮器(无后备电池)的分配情况。地址（十进制）转换/效定平均格式CH1时数 使用CU时/区H2均/数未使区CH1温6）CH2温6） 使用CU时区未使区CH1温2）CH2温2） 使用CU时区未使区写数误码转换标志铂测阻指定

使用CU时/区用PCPU的区使用CU时/区意项用CCU缓存储址101，15读。于A16D始检温度，不使用PCCU数。在数时存区被。3163.规格 MELSE－A3.5.2用于转换有效/无效指定的存储器(地址0)该区用温检测。()在通，置换无通指定在“0000H(0)”。()为少间可用顺序变转效无设置。忽略 道定1换效0换效示例:指定通道转换为指通换/效向0001H(1)写数据，采样时间为备注3.3.2节给出了/效指详资料。3173.规格 MELSE－A3.5.3用于平均处理指定的存储器(地址1)该区用采或平处。（1在源和AS6RD置待态，所通道设置样理。（2使用缓冲存储器的地址1来设置采样处理和均处理，并指定处理方法(时间平均/次数平均)。忽略 否进平均理1平处理0采处理

忽略 定时/次数1时平均0次平均意项在没有指定平均处理方法时，将自动设置为采样处理，而与时间/次数定。备注3.3.3节给出了和平处的料。3.5.4用于时间/次数平均的缓冲存储器(地址2和3)（1在源，时间平设为。（2）建议设置如下所示:平均理间平均理数

180次注意项如果写入上述范围之外的数据时，将发生设置错误，应向缓冲存储器中重写平均时间/次数数据。但是，在设置平均时间或次数之前A16D执行过。备注(1)3.3.3节给出了平均时间/次数的详细资料。3-183.规格 MELSE－A3.5.5用于检测温度值的缓冲存储器(地址10,11,18～21)(1)16位数据(地址和11)可以16号进制据存－10600的10倍温值数值。如果度，以二制式储。例1:如果检测温度为13。例2:如果检测温度为－123.0251230(2)6位数据(地址18～21)可以32号进制据存－100～0000之的100于测温度值的值温值为，进补存。例1:如果检测温度为125。例:如果检测温度为－123.02512302。备注3.3.4节给出了值的细料。3-193.规格 MELSE－A3.5.6用于数误代的存(地址34)该区用从CPU到16RD写否入置的写数据。(1)当从将进行如下检查:检查数平的范围检查否入区域果值出围数写读，1S6D以16位二进制数据存贮错误代码。6.1出错误的详资。(2)如果有多于一个的错误代码，将只存贮检到的第一个错误代，不它误。(3)为复位错误代码，可从PCU入。如果没有纠正错误而复位错误代码，数据错误代码将设置为0，同时A16RD的UNED止。注意项(1)当除0的数，码不复位。(2)可以通过复位错误置标志的方法复位错误代码(见3.4.3节)。3-203.规格 MELSE－A3.5.7用于换标缓存(地址35)该区用指为转有道否确。(1)接通电源后，在指定通道发生转换有效/无效(地址0)改变时，将执行一次转换成志。转换/定从0到1设置转换有效并在缓冲储器中存检测温度值后，相通道的换志设为。转换/定从1到0相应道完标志设为。(2)提供给每个通道的转换完成标志如下图所示。转完标志1转换完成0转换未完成(3)在读取执行平均过程道的检测温度值时，转换完成标志可用作互锁。3.5.8用于铂测温电阻规格类型的缓存(地址36)（1在源，设置新JIS/DIN。（2所由定决定。无效铂电的定1旧JS型0新JS/DN型备注3.3.6给出了铂的详资。3-214.预操作设置和顺序 MELSECA4预作设和顺序4.1预操作顺序A16RD的操序所。开始将A12RD和基板单元相连将Pt100和A1S62RD所使的通 见4.5节道相连接通PCCPU和A1S62D的源A1S62D错误校正存贮控制A1S62RD的PCPU顺控程序

见4.4节见5节成4-14.预操作设置和顺序 MELSECA4.2安装指南以下容了AS6D的注事项。(1)保护A162D免击。(2)禁止从保护罩中移走刷电路板，在电路板上没有用户可直接操作的器件。(3)确保无导电碎片进入块如果有保去除这些碎片尤其小心不要切断线。(4)按照如下所示，拧紧端子螺钉:螺 钉 拧紧力矩范围(kg·cm)(lb·in)I/O端子排端子螺钉(M3.5)I/O端子排端子安装螺钉(M)模块定钉

6(5.19)～9(7.80)8(6.93)～12(10.39)8(6.93)～12(10.39)(5)在基本单元上安装模应将模块固定钩插入基板单元上的固定并拧紧模块定。除去块松固螺钉从中出钩。模块固定螺钉基板单元 模块连接器模块模块固定凸起模块固定孔4-24.预操作设置和顺序 MELSECA4.3称下图了1S6R和A1RD4各名。表4.1名称编写 描 述 应 用1

通操作状态显 式示 试式

ON: 普通作FLASH:写误源关或错误ON:当偏置/增益设置开关设置为偏置或增益时，该ED每.5秒烁一次OFF:当偏置/增益设置开关位于设置位置234567

通道选择开关偏置/增益置关增大/减小关试端子Pt00连接子模拟/接地子

择补时或调节测设偏益值(1)OFFSET位置:校正偏置值(2)AN位置:校正增益模式值(3)T位置:存贮偏置/增益模式值当开关从偏置/增益转换为设置时，检测温度将以偏置/增益形在A1D中。下，/少道的/益值(1)ON(<0.5s):数值每次增大/减小(2)ON(≥0.5s):数值每0.04s增大/减小补时子1和3路于接Pt100(见4.5节)必接地4-34.预操作设置和顺序 MELSECA4.4误校正(a)启动系统和(b)无法得到正确的检测温度时，将进行错误校正。可以过控序从冲读检值行正同时使外监之。偏置对两个数值中的小值进行校正

增益对两个数值中的大值进行校正偏置/增的增大/减少调节输入度温值特如示为温入，应对测进校正。增益为输值符必行正检测温度值补前输后输入值为值入值符必值校正★使电而向t1确度值法错校正标准阻值 = 偏置/增益值为输入温度时Pt10标阻值附录2）4-44.预操作设置和顺序 MELSECA注意项(1)在可用范围内最大值和最小值处完成错误补正，这将产生很高精度的偏置/增益值。(2)为设置偏置/增益值，可以使用顺控程序读取检测温度值。但是，在设置待机标志时,为读检温提一个锁。(3)偏置/增益值必须在输入温度范围内。(4)偏置/增益值存贮在中。即切，据不储中丢。4-54.预操作设置和顺序 MELSECA4.4.1初始设置如下所始设置程于误。开始指定铂测温电阻类型编制读取检测温度值的程序结束采样序当通道1和2置为JPt100(旧JIS)时用校的初命令在正读取令

定JPt10旧JIS号）测度值注意项在普模设测试式为正进始设。备注在5.2和C编程手册(一般指令)给出了和令。4-64.预操作设置和顺序 MELSECA4.4.2错误正序错误正下所示。开始使TST子路测模式 输值用择关设正道标等输偏值将/置为GNRUND每05闪烁次标准等使用/dwn关益值将置设开关为OSTRUNED每0.5闪次冲器使用u/don偏/少将/开设为SET缓存器已值贮否将置增开为T 已正？开TST端子是结 束4-74.预操作设置和顺序 MELSECA4.5接铂测电阻Pt100和344.5.1和Pt100连接(1)使用3线制Pt100具很高精。3制屏蔽(2)2线制或4制t1和1S23起使。将A6D3和2和4线制P10如示。4制屏蔽2制屏蔽4-84.预操作设置和顺序 MELSECA4.5.2和P100的顺序(1)使用4线制Pt100具很高精。4制屏蔽(2)2线制或3制t1和A16R4起用将A1S2R4和2制和3线制P10如示。3制屏蔽2制蔽4-94.预操作设置和顺序 MELSECAA1S62R4和t10的项A1S62R4和Pt100的事如下。要点（1将A162D4的a1和b2端子相连(见下图1)。（2跳用道端子a和b之间的其它端子(见下图2)。使用所有通道 只使用通道1图.1 2注意项确保将t100接道为换将与Pt100连接道设置为转换有效时，即使与Pt10连接的通道没有断开，断开检测标志仍自。4-105.编程 MELSECA5编程以下容用A16RD编。5.1编程顺序图5.1给在CU和1SD之间执写/读操作编写写程序的过程。开 始是所道为换无了？编序换效 否编使可行换是使旧JS型t10？否 制定旧S型Pt0新JISDN）型是需平？否采）

制置间或平均设置编程行过程编序检度值已进错查吗？否

是制取写代码编程置代码结 束图 5.1 编顺序意项须图5.1示初始设果设间次平前定理会生写据建使写行始。5-15.编程 MELSECA5.2读/写基本编程(1)从AS6D取…、OPDRO和DOP格式RM态符号 内 容 用件N1D

在I/O首址，ASD模占首址尾0的6表示贮缓地址贮的元件读的数

KHKHTCD，W和RKH示例为使1S6RD入配给13X4、分给Y10Y14从缓存地址0字数到D0:RM行态(2)向A6D......、OPDO和D格式O指状态符号 内 容 用件N1S

在I/O首址，ASD模占首址尾0的6表示贮缓首址贮据软常量写字数

KHKHTCD，，KHKH示例为使1S6RD入配给60X7输配给60Y7并存地址0写数据:TO指行态5-25.编程 MELSEC－A5.3编程示例以下容出用A16D编的例。5.3.1读检温值的序在使旧JS型Pt00的道1中可行间为平处过。在转完后读检温度。(包括读取写数据错误代码和错误代码重置的程序。)[系统配置]电源模块I/O地址[规格](1)可执行命令(a)指定类型的铂测温电阻的写命令(b)指定转换有效的通道和时间平均处理过程的写命令(c)转换完成标志和检测温度值的读命令(d)检测温度值的正负识别命令(e)写数据错误代码的读命令(写数据错误标志)(f)错误代码重置命令(2)当检测温度值为负时的输出(3)检测温度值的输出(4位码)(4)写数据错误代码的输出(2位码)(5)指定转换通道的寄存器存贮(6)指定平均处理时间的寄存器存贮(7)平均时间的寄存器存贮(8)转换完成标志的寄存器存贮(9)读取检测温度值的寄存器存贮(10)检测温度值正负检查后的寄存器存贮(11)写数据错误代码的寄存器存贮

X0X1X2X3X82X4Y70Y4Y4FY5Y57D0D1D2D3D10D20D305-35.编程 MELSEC－A[采样程序]编程顺序指定P0的型入换效道定时平指定取换成志和换成的测度值检检温值正并出用数错标志取数错代码错代复位

定旧JS开型P0。道1转有的定存在0中道1进时平的指存在1中均间00m）贮在2中02的数写缓冲储地址02中取换成志在换成，通道1的测度读入0在0中据负，接通0在0数为时正形存在0中在0中据正，存在0中道1中检温值（在0中以CD码式出到04F写据误信号（2位则将错代放入0错代以CD形式输到5057误位结 束5-46.故障排除 MELSEC－A6故障排除本节出在A1D行时能生误代、原和正施。6.1错误代码列表在从PC向A1S2D 闪烁)以下的错误码存在A1缓址34中。表6.1错误码表错误码 原 因 纠正施试图向只读区域写入数据(地址为10，为不向读域数，11，18～21，35) 改正序。102所设置的平均时间值不在80～范。

在s围内纠平时设。[][0～4][][5～8]

[]表示发生错误的通道号。数字～4无殊义仅说平均时间置误。所设置的平均次数不在1～80的范围。[]表示发生错误的通道号。数字～8无殊义仅说平均次数置误。

为使值在～800范，纠正均数置。(1)如果发生了多个错误，只存贮第一个错误代码。(2)可以通过向缓存地址4写“0或置错误码标志(Y12)的方法重置错代见3.5.6）6-16.故障排除 MELSEC－A6.2RUNLED闪烁或者熄灭(1)闪烁检查项目 纠 正措施是否设写据误志?是否开E子?

按照6.5中关骤打开TST端纠错误(2)熄灭检查项目 纠 正措施是否供C源?

检查源将模和本元靠接是否置DT错志?是否开E子?

按照6.3中关骤弥补误并开TET端子6.3WDT错误标志已设置检 查项 目 纠正措 施是已生T误? 关断通PC源置PCCPU。如果源有原可是硬故。向最的菱理咨。6.4READY标志已设置检 查项 目 纠正措 施是否置DT标?在PCPU内部是否发生过错误?

参考6.3中关骤参考户册关步骤6.5写数据错误标志已设置检 查项 目 纠正措 施是否生写据误?

检查6.1中错代列表并修正控序检查5.1中初化置顺，并修顺程序6-26.故障排除 MELSEC－A6.6断开检测标志已设置检 查项 目 纠正措 施没有和P连通是否已指定转有?有无开?

将没有和Pt00相连的通道指定为转换无效A16R3可靠接使相通替换Pt00A16R4将子a1和b2相连可靠接换Pt1006.7CU无法读取检测温度值检 查项 目 纠 正措施通道否设为换效?RUNED是闪或PU的RED是闪烁或熄灭?

将通指为换效参考6.2中关骤检查如1SPU户所给的错误内容的RORED是否闪烁或灭?Pt00是否已可靠连接或在 可靠接换Pt100Pt00是有开错误否正改? 参考4.4中关骤6.8温度输入值和温度检测值不一致检 查项 目 纠 正措施已指的Pt100是和际使用的P10相?错误偿否确?是否设断检?否于RN状?

确保的P10所用的P100相符参考4.4中关骤参考6.6中关骤将PU置为态6-3附录 MELSEC－A附录附录1A1S62RD3、1S62R4、A68R3和A6RD4性能规格比较表1 性能规格比较项目 A16D3 A6D3 A16D4 A6D4测量法 3线型 4线型可连测电阻 Pt100(符合1989JIS和JPt100(1981JIS)温度输 Pt00入范围 JPt10

-180C～60°C(27.08Ω～313.59Ω)-180C～60°C(25.8Ω～317.28Ω)16带号进制-1800～6000(至小数点后第一位检测度值分辨率总体度转换度

乘以10)32带号进制-180000～60000(至小数点后第三位乘以1000)0.025°C40ms/通道温度入备数 2通道/模块 8通道/模块 2通道/模块 8通道/模块在 PC温度 PU和输输入 入端子设备 之间点数 通道间

光耦绝缘无绝缘I/O设点数 32端子接头 20针子排 38针子排 20针子排 38针子排指定测度道断检测

对每通指转有效在每通检测 在所通进检测5DC内部功耗(A)

0.54 0.94 0.44 0.75PP－1附录 MELSEC－A附录2铂测温电阻标准阻值2.1新JIS/DIN型号(Pt100)JIS43760-1980UntΩ-100 -0602