GB/T 39392-2020家用电器专用智能功率模块技术规范

ICS97030

Y60.

中华人民共和国国家标准

GB/T39392—2020

家用电器专用智能功率模块技术规范

Technicalspecificationofintelligentpowermoduleforhouseholdappliances

2020-11-19发布2021-06-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T39392—2020

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………2

缩略语

4……………………3

要求

5………………………3

试验方法

6…………………12

检验规则

7…………………20

标志包装运输和贮存

8、、…………………23

附录资料性附录测试工装参考电路

A()IPM…………24

附录资料性附录在家用和类似用途电器中的典型应用

B()IPM……26

参考文献

……………………29

Ⅰ

GB/T39392—2020

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准由中国轻工业联合会提出

。

本标准由全国家用电器标准化技术委员会归口

(SAC/TC46)。

本标准起草单位中国家用电器研究院安徽中认倍佳科技有限公司安徽众家云物联网科技有限

:、、

公司广东美的制冷设备有限公司中家院北京检测认证有限公司嘉兴斯达半导体股份有限公司珠

、、()、、

海格力电器股份有限公司无锡芯朋微电子股份有限公司厦门芯光润泽科技有限公司无锡华润微电

、、、

子有限公司青岛海尔智能电子有限公司工业和信息化部电子第五研究所浙江盾安禾田金属有限公

、、、

司国家电子元器件质量监督检验中心安徽国家智能家居质量监督检验中心清华大学西安庆安制

、()、、、

冷设备股份有限公司青岛海尔智能技术研发有限公司杭州星帅尔电器股份有限公司四川长虹空调

、、、

有限公司

。

本标准主要起草人徐鸿孙民赵鹏冯宇翔戴志展于玲易扬波李红伟许敏冯长卿谢敬仁

:、、、、、、、、、、、

钱叶华李勇德杨楠陈媛汪向荣李婷婷严利人刘杰陈丽芬汪超沙露侯明聂圣源吴红彪

、、、、、、、、、、、、、、

刘志弘李越峰

、。

Ⅲ

GB/T39392—2020

家用电器专用智能功率模块技术规范

1范围

本标准规定了家用和类似用途电器专用智能功率模块的物理接口功能性能以及电磁兼容性安

、、、

全可靠性等的技术要求与测试方法并对智能功率模块的检验规则标志包装运输和贮存等做出相

、,、、、

关规定

。

本标准适用于家用和类似用途电器的智能功率模块

。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

环境试验概述和指南

GB/T2421—2020

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验低温

GB/T2423.1—20082:A:

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验高温

GB/T2423.2—20082:B:

环境试验第部分试验方法试验振动正弦

GB/T2423.10—20192:Fc:()

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验盐雾

GB/T2423.17—20082:Ka:

环境试验第部分试验方法试验温度变化

GB/T2423.22—20122:N:

环境试验第部分试验方法试验恒定湿热主要用于元件的加速试验

GB/T2423.502:Cy:

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验引出端及整体安装件

GB/T2423.602:U:

强度

家用电器电动工具和类似器具的电磁兼容要求第部分发射

GB4343.1—2018、1:

家用电器电动工具和类似器具的电磁兼容要求第部分抗扰度

GB/T4343.2—2009、2:

家用和类似用途电器的安全第部分通用要求

GB4706.1—20051:

低压系统内设备的绝缘配合第部分原理要求和试验

GB/T16935.11:、

电工电子产品加速应力试验规程高加速寿命试验导则

GB/T29309—2012

半导体器件分立器件第部分绝缘栅双极晶体管

GB/T29332—20129:(IGBT)

半导体器件机械和气候试验方法第部分稳态温湿度偏置寿命试验

IEC60749-55:(Semi-

conductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part5:Steady-statetemperaturehumidity

biaslifetest)

半导体器件机械和气候试验方法第部分高温工

IEC60749-23:2004+AMD1:2011CSV23: