光缆测试学习的报告计划

1、MLC项目通讯传输系统光缆测试报告北京建谊建筑工程有限企业2010年7月21日一、光缆测试说明1、通讯系统说明MLC项目配套工程包含通讯传输系统，由MLC在TCC通讯机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套2.5G传输设施，三套传输设施经过光缆构成4芯复用段保护环网，经过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设施业务层互联。MLC新设的传输设施经过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF经过光缆连结，实现各线LC业务接入MLC。2、光纤使用说明1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤；2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东

2、辅楼三层TCC机房MLC通讯设施，占用北环4芯光纤；3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通讯设施，新敷设1根24芯光纤；4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通讯机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通讯配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。（此处的2根4芯多模光缆不属于通讯传输系统，是连结服务器与工作站互换机之间的多模光缆）；此次测试针对

3、以上6部分进行。3、测试仪器采纳信维牌OTDR（光时域反射仪），详细型号为S20。4、有关图纸MLC项目通讯系统光纤传输路由图二、光缆测试内容光缆测试包含以下内容：光缆熔接消耗（MLC项目中的光缆熔接点）；处MLC通讯设施之间光纤传输链路的光衰减；详细说明以下：光缆熔接消耗：西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆；3处MLC通讯设施之间光纤传输链路的光衰减：西直门8层MLC通讯设施与京投大厦西辅楼一层MLC通讯设施之间的链路衰减；西直门8层MLC通讯设施与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通讯设施之间的链路衰减；京投大厦西辅楼

4、一层MLC通讯设施与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通讯设施之间的链路衰减；三、测试目的序号测试内容测试目的合格标准备注1光缆熔接消耗检查光纤熔接质量每个熔接点消耗光纤熔接规范0.08dB西直门8层MLC通讯设施与京通讯设施对光衰2投大厦西辅楼一层MLC通讯检查光纤链路质量25dB减的要求设施之间的链路衰减西直门8层MLC通讯设施与京通讯设施对光衰3投大厦东辅楼三层TCC机房检查光纤链路质量25dB减的要求MLC通讯设施之间的链路衰减京投大厦西辅楼一层MLC通4信设施与京投大厦东辅楼三检查光纤链路质量15dB通讯设施对光衰层TCC机房MLC通讯设施之间减的要求的链路衰减四、光缆测试记录1、西

5、直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录在西直门8层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；而后在西直门7层通讯配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果以下：光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB测试地址：8层MLC机房测试地址：7层通讯配线双向测试取均匀值间能否合格8层熔接点7层熔接点8层熔接点7层熔接点8层熔接点7层熔接点消耗消耗消耗消耗消耗消耗是否是否是否是否是否是否

6、是否是否光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB测试地址：8层MLC机房测试地址：7层通讯配线双向测试取均匀值间能否合格8层熔接点7层熔接点8层熔接点7层熔接点8层熔接点7层熔接点消耗消耗消耗消耗消耗消耗是否是否是否是否是否是否是否是否是否是否是否光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消

7、耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB测试结论：经过施工单位（署名）：日期：测试地址：8层MLC机房测试地址：7层通讯配线双向测试取均匀值间能否合格8层熔接点7层熔接点8层熔接点7层熔接点8层熔接点7层熔接点消耗消耗消耗消耗消耗消耗是否是否是否是否是否不经过监理单位（署名）：日期：2、京投大厦新敷设2根24芯光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；而后在京投大厦西辅楼B1层通讯配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果以下：光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）每个熔接点消耗0.08dB

8、每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB测试地址：1层MLC机房测试地址：B1层通讯配线间双向测试取均匀值1层熔接点B1层熔接1层熔接点B1层熔接点1层熔接B1层熔接消耗点损消耗消耗耗点消耗点消耗能否合格是否是否是否是否是否是否是否是否是否光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每

9、个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB测试地址：1层MLC机房测试地址：B1层通讯配线间双向测试取均匀值1层熔接点B1层熔接1层熔接点B1层熔接点1层熔接B1层熔接消耗点损消耗消耗耗点消耗点消耗能否合格是否是否是否是否是否是否是否是否是否是否是否光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB测试结论：经过施工单位（署名）：日期：测试地址：1层MLC机房测试地址：B1层通讯配线间双向测试取均匀值1层熔接点B1层熔接1

10、层熔接点B1层熔接点1层熔接B1层熔接能否合格消耗点消耗消耗消耗点消耗点消耗是否是否是否是否不经过监理单位（署名）：日期：在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；而后在京投大厦东辅楼3层通讯配线间，对本项目敷设的芯光纤进行反向测试；测试结果以下：光纤合格标准测试地址：1层MLC机房测试地址：3层通讯配线间双向测试取均匀值1层熔接点3层熔接点1层熔接点3层熔接点损1层熔接3层熔接点能否合格芯数（双向测试均匀值）消耗消耗消耗耗点消耗消耗1.每个熔接点消耗0.08dB是否2.每个熔接点消耗0.08dB是否3.每个熔接点消耗0.08dB是否光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）每

11、个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB测试地址：1层MLC机房测试地址：3层通讯配线间双向测试取均匀值1层熔接点3层熔接点1层熔接点3层熔接点损1层熔接3层熔接点损消耗消耗耗耗点损消耗耗能否合格是否是否是否是否是否是否是否是否是否是否是否光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个

12、熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB每个熔接点消耗0.08dB测试结论：经过施工单位（署名）：日期：测试地址：1层MLC机房测试地址：3层通讯配线间双向测试取均匀值1层熔接点3层熔接点1层熔接点3层熔接点损1层熔接3层熔接点损消耗消耗耗耗点损消耗耗不经过监理单位（署名）：日期：能否合格是否是否是否是否是否是否是否是否是否是否3、京投大厦新敷设2根4芯多模光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的2根4芯多模光纤进行测试；而后在京投大厦西辅楼目敷设的4芯多模

13、光纤进行反向测试；多模光缆1测试结果以下：层通讯配线间，对本项光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）每个熔接点消耗0.3dB每个熔接点消耗0.3dB每个熔接点消耗0.3dB每个熔接点消耗0.3dB测试结论：经过施工单位（署名）：日期：多模光缆2测试结果以下：光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）测试地址：1层MLC机房测试地址：7层通讯配线间双向测试取均匀值1层熔接点7层熔接点1层熔接点7层熔接点损1层熔接7层熔接点损消耗消耗耗耗点损消耗耗不经过监理单位（署名）：日期：测试地址：1层MLC机房测试地址：7层通讯配线间双向测试取均匀值1层熔接点7层熔接点1层熔接点7层熔接点损1层熔接7层熔接点损消耗消耗

14、耗耗点损消耗耗能否合格是否是否是否是否能否合格1.每个熔接点消耗0.3dB是否光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）每个熔接点消耗0.3dB每个熔接点消耗0.3dB每个熔接点消耗0.3dB测试结论：经过施工单位（署名）：日期：测试地址：1层MLC机房测试地址：7层通讯配线间双向测试取均匀值1层熔接点7层熔接点1层熔接点7层熔接点损1层熔接7层熔接点能否合格消耗消耗消耗耗点消耗消耗是否是否是否不经过监理单位（署名）：日期：4、西直门8层MLC通讯设施与京投大厦西辅楼一层MLC通讯设施之间的链路衰减在西直门8层MLC机房，对本项目南环的4根光纤进行测试；而后在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目的南

15、环光纤进行反向测试；测试结果以下：光纤合格标准芯数（双向测试均匀值）链路消耗25dB链路消耗25dB链路消耗25dB链路消耗25dB测试结论：经过施工单位（署名）：日期：测试地址：测试地址：双向测试取均匀值西直门8层MLC机房京投大厦西辅楼1层能否合格链路消耗链路消耗链路消耗是否是否是否是否不经过监理单位（署名）：日期：5、西直门8层MLC通讯设施与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通讯设施之间的链路衰减在西直门8层MLC机房，对本项目北环的4根光纤进行测试；而后在京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通讯设施，对本项目的北环光纤进行反向测试；测试结果以下：测试地址：测试地址：双向测试取均匀值光纤合格标准层MLC机房京投大厦东辅楼3层能否合格西直门8芯数（双向测试均匀值）链路消耗链路消耗链路消耗13.链路消耗25dB是否14.链路消耗25dB是否15.链路消耗25dB是否16.链路消耗25dB是否测试结论：经过不经过施工单位（署名）：监理单位（署名）：日期：日期：6、京投大厦西辅楼一层MLC通讯设施与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通讯设施之间的链路衰减在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目新增的1根24芯光纤进行测试；而后在京投大厦东辅楼三层TCC机房的MLC通讯设施，对