数字电路测试系统介绍

台湾德律TR-6010 逻辑器件测试机概述：专为10MHz逻辑IC测试机, 具有Function Pattern测试, Dc参数量测等功能硬件结构：特性：2M的向量存储器深度可4组并行测试完整的功能Pattwen和DC参数测试驱动电压：+-8V，比较电压：6V具有Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析测试程序调试工具完善的测试诊断报告和柱状图TTL和GPIB接口, 可直接连接至prober和handler紧凑小型，易安装 资源配置：测试控制器：奔腾III以上PC系统软件：MS-DOS 电源要求：（1）单相交流，AC 110V 10A /50-60Hz （2）单相交流，AC 220V 6A /50-60Hz性能参数：测试频率： 10MHz周期速率： 100nS-1.31mS周期分辨率： 20nS测试通道： 最大128个多组测试： 2/4组并行测试定时器： 4Pins/TG定时器分辨率： 10nS 闸门模式： 边沿式测试向量深度： 2M驱动器： VIH： +-8V 分辨率：5mVVIL： +-8V 分辨率：5mV比较器：VOH： +-8V 分辨率：5mVVOL： +-8V 分辨率：5mV PMU：1组/板卡，最大8组施加电压/ 测量电流范围：级别 电压 精确度分辨率0 10V+%+-5mV2.5mV1 10V+%+-5mV 2.5mV210V+%+-5mV2.5mV310V+%+-5mV2.5mV施加电流/ 测量电压范围：HVPMU：2组/板卡，最大16组施加电压/ 测量电流范围：施加电流/ 测量电压范围： 日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（一） 概 述 10MHz的测试频率，128个测试通道，4M字节向量深度的大规模LSI测试系统 系统尺寸主框架 ：580(W),750(D),1200(H)或1850(H)毫米 测试头 ：580(W),340(D),250(H)毫米 电缆长度 ：4 米 测试器控制器 处理器 AMD-K6-500 操作系统 MS/DOSV 内存 32MB 硬盘 4.0GB 软盘 3.5英寸 1.44MB 接口板 标准接口板 针 对探针机和机械手GPIB 接口板 选项PIN电子性能标准 64 PIN 全系统 128 PIN 或 64PIN*2DUTS 软件包 语言 C (库: TURBO C) 工具软件 SCHMOO HISTOGRAM WAFERMAP 测试程序转换器 ANDO-SUMMIT 至 V7100 (主程序和波形程序) SENTRY 至 V7100 (波形程序) CREDENCE-SC212 至 V7100 (波形程序) ADVANTEST-MOSPL 至 V-7100 (波形程序) 驱动器 输出电压 VIH 0V 至 +11V VIL -2V 至 +8V 电压摆幅 100mVp-p 至 11Vp-p 精度 0.5% + 5mV 分辨率 2.7mV 最大 DC 电流输出=H20mA 输出 = L20mA 阻抗 50 5%ohm 升 / 降 时间 驱动器模式 5ns/5Vp-p(20% 至 80%) I/O 模式 5ns/5Vp-p 总时钟精度 (NRZ 格式 ) 5ns ( 最大 ) 时滞 (NRZ 格式 ) 有关 PINS 5ns ( 最大 ) 有关 TGS 4ns ( 最大 ) 上突波 / 下突波 3%+50mV VIH/VIL 级别 4 级别 驱动器模式 FIX-HI, FIX-LO, NRZ, /NRZ, RZ, /RZ, R1, EXOR, /EXOR, 无调制 时钟的限制 参照图 1 条件: 10Mohm 和 15pF 载荷安捷伦 83000 数字电路测试系统描述：特性和用途：用于Credence的Electra MSR 100MHz机台上，根据客户器件封装尺寸设计制作专用的定制型测试接口板，有效解决高速信号干扰之问题。规格： 长（L） * 宽 （W） * 厚 （H） 安捷伦 93000 SOC 测试系统 概述 测试系统具有数字、模拟、存储器、射频（RF）模块（可 选件）的功能测试和参数测试支持扫描测试支持IDDQ测试测试系统具有可升级性和可扩展性参数:（1）系统控制平台 HP C3750 UNIX工作站 内存 2GB 硬盘 36GB HP p1130 21”高分辨率纯平彩色显示器 配备DVD光盘驱动器 配备磁带机 配备10M100M Ethernet接口 操作系统 HP-UX B11.11（2）数字功能指标 数字通道 : 256 数据速率 ：660Mb/s 向量存储深度 ：14M 扫描存储器深度 ：56M 边沿定位精度 土150 ps（3）模拟部分 任意波形发生器（AWG），精度12-bit, 频率：500MHz采样/s； 数字化仪，精度：12-bit, 采样速率：320MHz采样/s； 时间间隔分析仪（TIA），输入频率：400MHz。（4）DC测试性能 通用器件电源，参数：7V/8A 低噪声电源，参数：8V/4A 精密测量单元，最大电压量程: -5V +8V，电压分辨率: 250uV，最大电流量程: 200mA，电流分辨率: 250pA 参数测量单元 PMU，量程: -2V +7V, 40mA IDDQ电流测量，精度100nA，分辨率10nA5）测试软件 SmarTest Rev. 4.1.6/4.2.5 SmarTest Program Generator Rev. 1.2.0 VCDTO93K Edition 2.0 安捷伦93000 SOC系列模块配置表模块描述数量位置主要指标详情数字通道P600660Mbit/s数字通道161010110116最高数据速率：660Mbit/s最大时钟频率：625MHz? 扫描深度：56MC400400Mbit/s数字通道2401020111616最高数据速率：400Mbit/s最大时钟频率：400MHz? 扫描深度：14M模拟模块WGD500M任意波形发生器1230分辨率：12bit采样速率：8ksps到500MspsWDD1GHz数字化仪1227分辨率：12bit采样速率：1Msps到320Msps最大带宽：1GHz（采样仪模式）TIA400MHz时隙分析仪1225最高输入频率：400MHz分辨率：0.8ps电源GPDPS通用器件电源4DPS1114驱动能力：7V/+8