[项目申请书]ICP光谱仪进样系统的雾化室与进样管头.doc

项目申请书项目名称ICP光谱仪进样系统的雾化室与进样管头申 请 者 所在学院 联系电话 填表日期 基本情况项目名称ICP光谱仪进样系统的雾化室与进样管头负责人姓名性别民族出生日期 学 院年 级专 业校内住址联系电话指导老师姓名性别所属学院职称研究专长主要成员姓名性别学 院年 级专 业项目分工联系电话预期成果A.专著 B. 论文(集) C. 研究报告 D.工具书 E.科技发明 F.电脑软件 G.其他预计完成时间（研究期限一般为一年）申报项目信息ICP光谱仪进样系统的雾化室与进样管头摘要：本实用新型公开了一种ICP光谱仪进样系统的雾化室，该雾化室采用三个雾化筒同心套接而成，雾化筒之间的间隙形成气溶胶流动的通道，由于每个雾化筒进气口和出气口都彼此远离，这样就延长了气溶胶在雾化室里的形成，增加了雾化室的体积，从而将雾化器废液液滴的滴落或者由于载气压力的波动引起的气溶胶进样速度的波动对信号的影响减到最小，增强了信号的稳定性。该ICP的进样软管加有过滤头，既避免了软管堵塞，同时又减少了杂质对检测结果的影响。关键词：ICP；进样系统；雾化室一、 背景和必要性ICP光谱仪是一种精密的原子发射光谱仪，主要组成部分包括电感耦合等离子体发生器（即ICP光源）、进样系统、分光系统、光电转换系统、信号处理等几部分。其中，电感耦合等离子体发生器发生等离子体焰炬，焰炬的高温能够激发待分析的样品元素的原子，从而产生改元素的特征分析线；进样系统用于将待测的样品溶液形成气溶胶，并将该气溶胶送入等离子体焰炬中去激发；分光系统则将等离子体焰炬发出的特征分析线的波长分离开来并定性其波长；光电转换则将分析线的光强信号转换为电信号；信号处理包括光电转换信号的放大、滤波、AD转换、计算等等。进样系统是ICP光驱一中非常重要的一个系统，进样系统的稳定性以及重复性直接影响ICP光谱仪整机的稳定性和重复性。进样系统的主要功能就是将待测的样品溶液通过雾化器和雾化室形成混合均一的气溶胶，然后通过雾化室将该气溶胶导入炬管的中心通道，进行激发。在使用过程中发现，雾化室对进样系统的重复性以及稳定性影响比较大，其原因在于原雾化器是双筒同心的雾化室，雾化室内部体积较小，由于雾化器废液液滴的滴落，或者由于载气压力的波动引起的气溶胶进样速度的波动，雾化室不能很好的缓冲这种波动造成的影响。另外，雾化器形成的气溶胶在雾化室中的行程也较短，会导致进入炬管中心通道的气溶胶颗粒均匀度较差，也会引起激发信号的波动，从而影响信号的稳定性。进样样品中可能含有少量杂质，ICP的进样软管与高效液相色谱仪的软管一样，又细又长，如果有杂质进入，对检测结果会有影响，同时也可能造成堵塞软管。二、 主要内容针对上述现有技术的不足，本实用新型要解决的技术问题是提供一种新的ICP光谱仪进样系统的雾化室以及在进样软管上加过滤头，该方案中雾化室采用三个物化筒套接而成，雾化筒之间的间隙形成气溶胶流动的通道，增大了内部体积，延长气溶胶在雾化室中的行程来更好的缓冲气溶胶波动对信号的影响，增强信号的稳定性，本发明的雾化室包括第一雾化筒、第二雾化筒之间留有间隙，所述第一雾化筒位于所述第三雾化筒内，所述第二雾化筒与第三雾化筒之间留有间隙，所述第一雾化筒的一端设有雾化器安装口，所述第一雾化筒远离雾化器安装口的一端设有第一连通孔，所述第一雾化筒与第二雾化筒通过所述第一连通孔连通，所述第二雾化筒远离所述第一连通孔的一端设有第二连通孔，所述第三雾化筒远离所述第二连通孔一端的上侧设有气溶胶出口，所述第三雾化筒远离所述第二连通孔一端的下侧设有废液排出口。优选的，所述第一雾化筒、第二雾化筒、第三雾化筒的轴线重合该ICP的进样软管加有过滤头，既避免了软管堵塞，同时又减少了杂质对检测结果的影响。三、 先进性和创新性1、 与目前ICP光谱仪进样系统的雾化室相比，该方案中的雾化室内部体积较大，延长了气溶胶在雾化室内的形成，从而将雾化器废液液滴的滴落或者由于载气压力的波动引起的气溶胶进样速度的波动对信号的影响减到最小，增强了信号的稳定性。2、 该ICP的进样软管与目前使用的软管相比加有过滤头，既避免了软管堵塞，同时又减少了杂质对检测结果的影响。四、 主要技术指标 气溶胶在雾化室中的行程增加，形成的气溶胶更均匀，增强了信号的稳定性；过滤头可滤去样品中的杂质，可减少杂质对检测结果的影响。五、 效益分析1、 采用三个雾化筒套接而成，雾化筒之间的间隙形成气溶胶流动的通道，由于每个雾化筒进气口和出气口都彼此远离，这样就延长气溶胶在雾化室内的行程，气溶胶在雾化室内的行程及停留时间增加了一倍以上，有效改善了雾化室出口处的气溶胶的均匀性，从而将雾化器废液液滴的滴落或者由于载气压力的波动引起的气溶胶进校速度的波动对信号的影响减到最小，增强了信号的稳定性。2、 该ICP光谱仪进样系统成本低，使用寿命长，可替代目前的ICP光谱仪进样系统而得到